Agilent Technologies Connected Solutions

Connected Solutions とは、新しいデザインや動作検証のために、AgilentのEDAソフトウェア (ADS) と電子計測器を1つのソリューションに 統合したものです。

シミュレーションと測定を組合わせることにより、信号、測定、アルゴリズム、データを2つの領域の間で共有が可能になります。

Connected Solutions により、次のようなことが可能となります。

• 測定値からシミュレーション・モデルの作成 Connected Solutionsを用いることにより、既存のコンポーネントを測定して、シミュレーション・モデルを作成することができます。さらに、 これらのモデルをADSで使用して、既存のハードウェアがシミュレーションにおいてシステムまたは回路全体の性能にどのような影響を及ぼすかを 調べることもでき、デザインに要する時間やコストの削減が可能です。
• 検証テストの加速 Connected Solutionsを用いれば、システム全体を構築することなく、コンポーネントやサブシステムがシステム全体として機能しているかを 簡単に確認することができます。デザイン・プロセスにおいて統合の問題を簡単に見つけ出し、解決することができるので、リスクが減ると同時に、 リワークに要する時間やコストも抑えられます。
• 測定器の機能/価値を高める Connected Solutionsにより、コンポーネントのコード化ビット・エラー・レート・テストやシステム内で発生する可能性のある劣化信号を持つ デバイスのエミュレートなどが可能になり、Agilentの電子計測器を有効に利用できます。

詳細情報.

• E5720A Connection Manager - 製品情報
• ADS-Instrument Links (英語)

• Agilent Technologies EDA-Instrument Connected Solutions. 16ページ 構成ガイド. 2003年7月30日. PDF, 68 KB.
• Agilent Technologies 無線 3G ソリューション 16ページカタログ. 25 January 2002. PDF, 1.44 MB.
• Agilent Technologies 無線通信製品、サービス、 ソリューション. 76ページカタログ. 2002年4月18日. PDF, 8.9 MB.
• Generating Custom, Real-World Waveforms for 3G Wireless Applications (英語). Product Overview, 12 pages, 19 March 2001. PDF, 1.34 MB.
• Agilent Solutions for Designing and Manufacturing Base Transceiver Stations and Their Components  (英語). Product brochure, 28 pages, 7 December 2001. PDF, 1.67 MB.
• E4726A WLAN Connected Verification Consulting (英語）. 2-page service overview. 20 March 2003. PDF, 149 KB.
• Agilent EEsof EDA Connected Solutions Support  (英語). 2-page data sheet. 28 January 2003. PDF, 46 KB.

関連製品

• Agilent VEE
• Agilent 89600 シリーズ・ベクトル・シグナル・アナライザ

オンライン・デモ

• ADS Connection Manager を使用した、増幅器ビヘイビアモデルの作成 (英語) - オンライン動画像デモ
• デジタル・プリディストーションを用いたPAハードウェアのリニアライゼーション - オンライン動画像デモ

ビデオ

下記は、実際に測定器とEDAをつないだ、Connected Solutionsを用いたデモンストレーションのビデオ・デモのリンクです。再生にはWindows Media Player が必要です。各デモンストレーションは英語解説となります。

記事

• Greg Jue and Scott Ferguson, Agilent Technologies, RF And Digital Tests Unite Against BER, Wireless Systems Design, November 2004. Current issue: Wireless Systems Design.
• Greg Jue, Agilent Technologies, Accelerating the design and verification process, RF Design, 1 August 2004. Current issue: RF Design.
• Kelly Mekechuk, Wan-Jong Kim, and Shawn P. Stapleton, Simon Fraser University, Jong Heon Kim, Kwangwoon University, Linearizing Power Amplifiers Using Digital Predistortion, EDA Tools and Test Hardware, High Frequency Electronics, April 2004. PDF, 437 KB.
• Chris Mueth, Agilent Technologies, Behavioral modeling smooths RF design, EE Times, 26 September 2003.
• Dingqing Lu and Jinbiao Xu, Agilent Technologies, A WLAN Test System Using Test Equipment With EDA Software, analogZONE, 23-page technical paper, 5 May 2003. PDF Version, 210 KB. Current Issue: analogZONE.
• Brent Forman, Agilent Technologies, When Test Equipment Talks with Design Tools, Virtual DA Café seminar. 17 January 2003. Brief registration required. PDF Version, 156 KB.
• Joel Dunsmore, Greg Jue, and John Kikuchi, Agilent Technologies, A Measurement-based Behavioral Model for I/Q RF Modulators,  Microwave Journal, December 2002. Current Issue: Microwave Journal.
• Cheryl Ajluni, Editor-in-Chief, Offering Merges Design and Test, Wireless Systems Design, October 2002. PDF, 224 KB. Current Issue: Wireless Systems Design.
• Chris Mueth, Agilent Technologies, Design/Verification Tools Tame Complex System Designs, Microwaves & RF, October 2002. PDF, 224 KB. Current Issue: Microwaves & RF.
• Jim Tabuchi, Agilent Technologies, The Role of EDA Tools in the PCB Design Process, Printed Circuit Design, cover story, October 2002. PDF, 686 KB. Current Issue: Printed Circuit Design.
• John Kikuchi and Greg Jue, Agilent Technologies, Generating Custom, Real-World Waveforms Integrating Test Equipment Into the Design Process, IEEE Xplore, 14-page article, IEEE AUTOTESTCON Proceedings. September 2000. Current Issue: IEEE Xplore.
• John Kikuchi and Greg Jue, Agilent Technologies, Blending Test Equipment into the Design Mix to Generate Custom, Real-World Waveforms, ChipCenter technical paper. Current Issue: ChipCenter.
• Steve Grossman, Contributing Editor, Instruments Play New Roles On The Benchtop, And The Desktop, Too, Electronic Design, 10 June 2002. PDF, 168 KB. Current Issue: Electronic Design.
• Greg Jue, Agilent Technologies, 3GPP W-CDMA Systems: Design and Testing, IEEE Microwave Magazine, June 2002. Current Issue: IEEE Microwave Magazine.
• Joe Troychak, Agilent Technologies, Design and Verification of IEEE 802.11a 5 GHz Wireless LAN, ChipCenter, 17-page technical paper, 9 January 2002. PDF Version, 2.1 MB. Current Issue: ChipCenter.

アプリケーション・ノート

• Connected Simulation and Test Solutions Using the Advanced Design System. 実用的なデザイン/動作検証アプリケーションにおける、Connected Solutionsに関する詳細なケース・スタディ、 例、技術情報、Application Note 1394, 56ページ, 26 August 2002. PDF, 820 KB
• 現在ADSを使用されている方は、上記のアプリケーション・ノートと一緒に、下記のプロジェクト・ファイル Connected_Sol_App_Note_ADS2002.zap (.zap File for ADS 2002, 6.7 MB) をダウンロードしてご使用いただけます。
• Agilent Technologies, ADSとBaseband Studio Streamingを使用した ビット・エラー・レート測定 (PDF, 216 KB). Connected Solutions Application Bulletin 1476-5. 4ページ. 2004年5月7日.
• Agilent Technologies, RF/IF-デジタル間の Connected Solutions を使用したビット・エラー・レート測定. (PDF, 774 KB). Application Bulletin 1471. 24ページ. 2004年3月14日.
• 現在ADSを使用されている方は、上記のアプリケーション・ノートと一緒に、下記のプロジェクト・ファイル RF_Digital_BER_AppNote_ADS2003C.zap (.zap File for ADS 2002, 22.4 MB) をダウンロードしてご使用いただけます。
• ADSディジタル・プリディストーションと Linearization DesignGuideを使用した マルチキャリア・パワーアンプの線形化 . (PDF, 550 KB).
• ADSと測定器による増幅器の ビヘイビア・モデルの作成 . (PDF, 465 KB).
• ADSと Infiniiumオシロスコープによる レーダ波形の解析. (PDF, 385 KB). Application Bulletin 1476-2. 4 pages. 2004年1月26日.
• Generating Custom, Real-World Waveforms (英語). Application Note 1360, 24 pages, October 2000. PDF, 800 KB.

プレスリリース　（英語）

• July 21, 2003 -- Agilent Technologies introduces industry's first built-in connected solutions application for amplifier characterization
• March 24, 2003 -- Agilent Technologies' new automatic verification modeling technology speeds communication circuit design by up to 1,000 times
• News @ Agilent, 18 March 2003 -- Agilent connected solutions. high-speed measurement tools and EDA Software recognized by top industry trade journals
• January 27, 2003 -- Agilent Technologies EDA offers new literature on connected simulation and test solutions
• January 27, 2003 -- Agilent Technologies announces design verification application support to help companies bring products to market faster
• January 27, 2003 -- Agilent helps communication companies bring products to market faster with increased productivity and lower development costs
• January 27, 2003 -- Agilent Technologies' connected solutions integrate design simulation tools and test instrumentation to increase productivity - Technical Backgrounder

受賞

Agilent ADS/Connected Solutions Named Best Wireless Design Tool
	Wireless Systems Design magazine has awarded Agilent Technologies ADS/Connected Solutions the prestigious 2003 Industry Award for Best Wireless Design Tool. The annual awards honor wireless products/technology developments that stand apart from the competitive field and inspire the wireless community. Text of the Award Citation Award winners are featured in the Show Guide for the Wireless Systems Design Conference and Expo in San Jose, California, 25 - 27 February 2003, and in the March issue of Wireless Systems Design.
"Each year the Best Wireless Design Tool is awarded to a company whose product significantly eases the design, development, verification, and/or test process facing today's wireless systems engineer. The product must do so in a manner that is easy to use, understand and implement. And, it must eliminate some of the undue burden typically associated with employing multiple tools throughout a design flow. This year, in particular, one tool easily stood out from the competitive field and captured this title in a unanimous vote from the judging committee. Agilent's Advanced Design System 2002C, coupled with the company's Connected Solutions concept, ensures that today's wireless systems engineers are able to verify design performance earlier in the development cycle than previously possible. And, it eases the burden of the verification process by merging the simulation and measurement domains. This is possible thanks to the wide breadth of expertise that Agilent consistently demonstrates - an expertise not easily captured by competing companies." — Cheryl Ajluni       Editor-in-Chief       Wireless Systems Design Magazine

セミナー

• NetSeminar - Combine Simulation and Test to Shorten RF Systems Design Cycles
  This free Agilent Technologies NetSeminar, given originally on 20 January 2004, provides an overview of Agilent's Connected Solutions, which integrates the test and simulation worlds. Its use is applied to two practical examples: creating an amplifier behavioral model; and determining the effects of component performance on system Bit Error Rate.   NetSeminar Archive
• セミナ ： デザインとテストの結合 Agilent Technologiesのセミナ「Connected Solutions セミナ」で使用された5つの技術論文をダウンロードできます。 2003年5月に米国で、7月には東京で開催されました。 
  • デザインとテストの結合 ： セミナ・ダウンロード(英文） 
  • 日本語セミナテキスト・一括ダウンロード　(PDF 7MB)

トレーニング・クラス: ADSを使った無線LANのデザイン

• Designing Wireless LANs Using ADS

Startup Consulting

• Startup Consulting and Training, Technical Support