BSIM4.4 Device Modeling Toolkit

BSIM4 Modeling Package は、U.C. Berkeley's BSIM4 モデル用の DC/RF CMOS モデリング・キットです。 このツールキットは、自動測定およびパラメータ抽出に対応できます。 これにより、デバイス・プロセスに対応するモデルを簡単に作成できます。 BSIM4 モデリングパッケージは、IC-CAP ソフトウェア環境の中で、AdMOS とのパートナーシップにより開発されました。

このツールキットは、極めて快適にご利用いただけます。 BSIM4.4 のインタフェースにより、効率的に、また正確な CMOS モデルを作成できます。 IC-CAP の新しいグラフィカル解析インタフェースである MultiPlot Studio とカスタムの GUI により、効率的解析が可能になっています。 ツールキットは、自動測定およびパラメータ抽出の２つのモジュール・カテゴリーからなっています。

BSIM4.4 Toolkit の特徴

DC および RF 測定モジュール

CMOS 技術の進化により、新しい BSIM モデルのバージョンは、CMC（Compact Modeling Council）により標準化されています。 モデルへの変更内容によっては、従来の測定/パラメータ抽出に新しい測定方法が必要になります。

IC-CAP BSIM ツールキットの測定概念は、１つのモデル・バージョンから別のモデル・バージョンへ柔軟に対応できるということです。 この統一された測定環境のアプローチにより、モデルからモデルへ（つまり、BSIM3 から BSIM4 へ）のデータ移行が簡単になり、 一貫した測定が可能です。

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統一された自動測定環境の詳細

ツールキットの測定ドライバには、DC と RF のそれぞれに対応するモジュールがあります。 それぞれのモジュールには便利な GUI があり、測定プロセスを確認することができます。

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DC 測定モジュール環境

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RF 測定モジュール環境

DC および RF パラメータ抽出モジュール

測定モジュールと同様に、パラメータ抽出モジュールも容易に使用できるようになっており、DC と RF それぞれに対応するモジュールがあります。

両方のモジュールとも、「ターンキー」モードで使用することができます。あるいは、特定のデバイス・プロセスへの抽出をカスタマイズすることも可能です。 更に、プロセスの特性評価の初期段階では抽出をステップ・バイ・ステップで行い、プロセスが安定してきたところでは、完全自動のオプションに移行する機能が、それぞれのモジュールにあります。

RF パラメータ抽出フローと DC パラメータ抽出フローのクイックガイド

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DC パラメータ抽出メイン ウィンドウ

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MultiPlot Studio ウィンドウで統合された Tuners と Optimizers

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MultiPlot Studio ウィンドウで統合された最終結果

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RF パラメータ抽出イメージは DC パラメータ抽出の場合と同じです。

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